%0 Journal Article 
%A Solano Mazo, Cristian Adolfo
%T Caracterización óptica y estructural de películas delgadas de TiOx con impurezas de Zn y V

%U http://hdl.handle.net/10584/7942
%K Óptica
%K Análisis espectral
%K Semiconductores
%~ GOEDOC, SUB GOETTINGEN