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Caracterización óptica y estructural de películas delgadas de TiOx con impurezas de Zn y V
| dc.contributor.advisor | Mass Varela, Julio | |
| dc.contributor.author | Solano Mazo, Cristian Adolfo | |
| dc.date.accessioned | 2018-05-31T21:43:24Z | |
| dc.date.available | 2018-05-31T21:43:24Z | |
| dc.date.issued | 2016 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10584/7942 | |
| dc.description | En el presente trabajo se sintetizaron muestras por el método de sol gel para la preparación de películas delgadas del sistema TiOx-Zn-V depositadas por rotación sobre sustrato de vidrio. Las muestras fueron caracterizadas por la técnica de difracción de rayos X (DRX) con ángulo rasante para el análisis estructural e identificación de las fases cristalinas y/o amorfa por espectrofotómetro de ultravioleta visible para análisis de las propiedades ópticas y eléctricas de las películas delgadas sintetizadas. Mediante los difractogramas de rayos X (DRX), se identificó la fase de TiOx-Zn con plano cristalográfico (200) y posición angular θ-2θ de 42.38° como fase mayoritaria en el sistema TiOx-Zn-V. Al introducir las impurezas de vanadio en el sistema TiOx-Zn, la orientación preferencial de este sistema se mantuvo, sin embargo, apareció una fase con menor intensidad en la posición angular θ-2θ de 50.39° y plano cristalográfico (5 3 -1). Este plano correspondiente a la de metavanadato de sodio (NaVO3), de acuerdo a la base de datos de difracción de rayos X utilizada. Se interpretó la presencia de sodio en nuestras muestras debido a los procesos de difusión de elementos del sustrato (que contiene sodio) hacia la película durante el proceso de recocido. | es_ES |
| dc.format | application/pdf | es_ES |
| dc.language.iso | spa | es_ES |
| dc.publisher | Universidad del Norte | es_ES |
| dc.subject | Óptica | es_ES |
| dc.subject | Análisis espectral | es_ES |
| dc.subject | Semiconductores | es_ES |
| dc.title | Caracterización óptica y estructural de películas delgadas de TiOx con impurezas de Zn y V | es_ES |
| dc.type | masterThesis | es_ES |
| dc.rights.accessRights | openAccess | es_ES |
| dc.type.hasVersion | acceptedVersion | es_ES |
| dc.publisher.program | Maestría en Física Aplicada | es_ES |
| dc.publisher.department | Física y Geociencias | es_ES |
| dc.creator.degree | Magíster en Física Aplicada | es_ES |
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