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dc.contributor.advisorMass Varela, Julio
dc.contributor.authorSolano Mazo, Cristian Adolfo
dc.date.accessioned2018-05-31T21:43:24Z
dc.date.available2018-05-31T21:43:24Z
dc.date.issued2016
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/10584/7942
dc.descriptionEn el presente trabajo se sintetizaron muestras por el método de sol gel para la preparación de películas delgadas del sistema TiOx-Zn-V depositadas por rotación sobre sustrato de vidrio. Las muestras fueron caracterizadas por la técnica de difracción de rayos X (DRX) con ángulo rasante para el análisis estructural e identificación de las fases cristalinas y/o amorfa por espectrofotómetro de ultravioleta visible para análisis de las propiedades ópticas y eléctricas de las películas delgadas sintetizadas. Mediante los difractogramas de rayos X (DRX), se identificó la fase de TiOx-Zn con plano cristalográfico (200) y posición angular θ-2θ de 42.38° como fase mayoritaria en el sistema TiOx-Zn-V. Al introducir las impurezas de vanadio en el sistema TiOx-Zn, la orientación preferencial de este sistema se mantuvo, sin embargo, apareció una fase con menor intensidad en la posición angular θ-2θ de 50.39° y plano cristalográfico (5 3 -1). Este plano correspondiente a la de metavanadato de sodio (NaVO3), de acuerdo a la base de datos de difracción de rayos X utilizada. Se interpretó la presencia de sodio en nuestras muestras debido a los procesos de difusión de elementos del sustrato (que contiene sodio) hacia la película durante el proceso de recocido.es_ES
dc.formatapplication/pdfes_ES
dc.language.isospaes_ES
dc.publisherUniversidad del Nortees_ES
dc.subjectÓpticaes_ES
dc.subjectAnálisis espectrales_ES
dc.subjectSemiconductoreses_ES
dc.titleCaracterización óptica y estructural de películas delgadas de TiOx con impurezas de Zn y Ves_ES
dc.typemasterThesises_ES
dc.rights.accessRightsopenAccesses_ES
dc.type.hasVersionacceptedVersiones_ES
dc.publisher.programMaestría en Física Aplicadaes_ES
dc.publisher.departmentFísica y Geocienciases_ES
dc.creator.degreeMagíster en Física Aplicadaes_ES


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