Caracterización óptica y estructural de películas delgadas de TiOx con impurezas de Zn y V

URI
http://hdl.handle.net/10584/7942
Registro completo
Mostrar el registro completo del ítem
Autor
Solano Mazo, Cristian Adolfo
Fecha
2016
Colecciones a las que pertenece
131549.pdf (4.050Mb)